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    导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪

    发布时间:  2022-02-07

    产品型号:  BQS-37

    产品报价:  

    厂商性质:  生产厂家

    所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

    产品特点:  导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪直径为10cm或更大些,需要测低损耗因数值时,很重要的一点是导线串联电阻引入损耗要尽可能地小。

    厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化,对1%的精确度来讲,1.5mm的厚度就足够了。

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    产品概述

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    导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪

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    最大的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误差,因此厚度应足够大,以满足测量所需要的精确度。


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    在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关。试样和电极固体绝缘材料试样的几何形状。

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    但是对于更高精确度,最好是采用较厚的试样,例如6mm~12mm,测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上。

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    且厚度均匀度在±1%内,如果材料的密度是已知的,则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。

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    测量10pF的电容时,使用有良好屏蔽保护的仪器,由于现有仪器的极限分辨能力约1pF,因此试样应薄些。

    电场强度存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗数量最大值的大小和位置也随此而变。


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    测定材料的电容率和介质损耗因数,最好采用板状试样,也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时。


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